多晶體衍射儀計(jì)數(shù)測(cè)量方法分為連續(xù)掃描和步進(jìn)（階梯）掃描兩種。1.連續(xù)掃描法：連續(xù)掃描方式掃描速度快、工作效率高，一般用于對(duì)樣品的全掃描測(cè)量（如物相定性分析）。步進(jìn)掃描法：步進(jìn)掃描測(cè)量精度高并受步進(jìn)寬度與步進(jìn)時(shí)間的影響，適用于做各種定量分析工作。測(cè)量參數(shù)包括狹縫光欄寬度、掃描速度、時(shí)間常數(shù)等。單晶體的研究方法分析的對(duì)象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中院子或原子團(tuán)均是周期排列的。將X射線射到一粒單晶體上會(huì)發(fā)生衍射，對(duì)衍射先進(jìn)行分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律——即解出晶體結(jié)構(gòu)。衍射儀的市場(chǎng)價(jià)格。歡迎來(lái)電咨詢(xún)上海澤權(quán)！合肥衍射儀生產(chǎn)廠家有哪些

x射線衍射圖譜： 橫坐標(biāo)：角度（度），是2θ 角，是衍射譜儀掃描的角度。 縱坐標(biāo)：是檢測(cè)到的計(jì)數(shù)，單位：CPS-每秒計(jì)數(shù)counts per sec. 另外，測(cè)試單上還會(huì)給出一系列數(shù)據(jù)，它們是： 一列數(shù)據(jù)，是2θ 角，要除以2才是用到公式中的θ 。 第二列數(shù)據(jù)，的d,單位是?， 第三列數(shù)據(jù)，BG，可能是背景縮寫(xiě)； 第四列數(shù)據(jù)，峰高，計(jì)數(shù)值； 第五列數(shù)據(jù)，相對(duì)峰高（%），是把強(qiáng)峰作為歸一標(biāo)準(zhǔn)的相對(duì)強(qiáng)度值； 第六列數(shù)據(jù)，峰面積； 第七列數(shù)據(jù)，相對(duì)峰面積（%）； 第八列數(shù)據(jù)，F(xiàn)WHM-Full width at half maximum （脈沖）峰半高寬；一般用于計(jì)算的峰強(qiáng)度使用高度就可以了，這是把峰都看成是常規(guī)峰。但這一項(xiàng) FWHM 可以給出特異峰信息，在解析時(shí)會(huì)帶來(lái)特殊意義。 第九列數(shù)據(jù)，XS(?)，XS是晶粒度(?）。奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD代理公司組合式多功能X射線衍射儀和高分辨率X射線衍射儀普遍應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。

衍射儀： x射線發(fā)生器 探測(cè)器 1衍射儀進(jìn)展 衍射儀的進(jìn)展主要在三個(gè)方面： 1、X 射線發(fā)生器，2、探測(cè)器，3、衍射幾何與光路。 x射線發(fā)生器 X射線發(fā)生器是進(jìn)行X射線衍射實(shí)驗(yàn)所不可缺少的、重要的設(shè)備之一，其優(yōu)劣會(huì)嚴(yán)重影響X射線衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量。 探測(cè)器 探測(cè)器是用來(lái)記錄衍射譜的，因而是多晶體衍射設(shè)備中不可或缺的重要部件之一。早先被普遍使用的是照相底片，由于它吸收率低，大量X射線會(huì)透過(guò)而不被吸收；它的計(jì)數(shù)線性范圍不大，強(qiáng)衍射不易測(cè)準(zhǔn)；而且，還會(huì)起“霧”；又由于要有暗室用化學(xué)法進(jìn)行顯影、定影、沖洗、曬干等一套繁瑣的過(guò)程，因此被性能更好的光子計(jì)數(shù)器所取代。計(jì)數(shù)器探測(cè)器不需化學(xué)處理，可以通過(guò)電子電路直接記錄衍射的光子數(shù)，方便了許多。初的計(jì)數(shù)器是蓋格計(jì)數(shù)器，但由于它的時(shí)間分辨率不高，計(jì)數(shù)的線性范圍不大，故不是一個(gè)良好的探測(cè)器。以后，正比計(jì)數(shù)器及閃爍計(jì)數(shù)器取代了蓋格計(jì)數(shù)器，成為普遍使用的探測(cè)器。隨著人類(lèi)對(duì)自然的認(rèn)識(shí)越來(lái)越廣，越來(lái)越深，對(duì)實(shí)驗(yàn)的要求也越來(lái)越高，越多樣化，簡(jiǎn)單的正比或閃爍計(jì)數(shù)器亦不 能滿足不同的實(shí)驗(yàn)要求，于是又陸續(xù)發(fā)展出許多不同的探測(cè)器。

用x射線照射固體時(shí)，由于光電效應(yīng)，原子的某一能級(jí)的電子被擊出物體之外，此電子稱(chēng)為光電子。 如果x射線光子的能量為hν，電子在該能級(jí)上的結(jié)合能為eb，射出固體后的動(dòng)能為ec，則它們之間的關(guān)系為： hν=eb+ec+ws 式中ws為功函數(shù)，它表示固體中的束縛電子除克服各別原子核對(duì)它的吸引外，還必須克服整個(gè)晶體對(duì)它的吸引才能逸出樣品表面，即電子逸出表面所做的功。上式可另表示為： eb＝hν-ec-ws 可見(jiàn)，當(dāng)入射x射線能量一定后，若測(cè)出功函數(shù)和電子的動(dòng)能，即可求出電子的結(jié)合能。由于只有表面處的光電子才能從固體中逸出，因而測(cè)得的電子結(jié)合能必然反應(yīng)了表面化學(xué)成份的情況。這正是光電子能譜儀的基本測(cè)試原理。選擇衍射儀有哪些方法？歡迎來(lái)電咨詢(xún)上海澤權(quán)！

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類(lèi)型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會(huì)產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識(shí)X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過(guò)測(cè)定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析，測(cè)定譜線的積分強(qiáng)度（峰強(qiáng)度）可以進(jìn)行定量分析，而測(cè)定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測(cè)。衍射現(xiàn)象是波的特有現(xiàn)象，一切波都會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象。淮安衍射儀生產(chǎn)廠家有哪些

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晶體X射線衍射： X射線在晶體中發(fā)生的衍射現(xiàn)象。晶體具有點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)，點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)的周期（即晶胞邊長(zhǎng)，b，c）與X射線的波長(zhǎng)屬于同一數(shù)量級(jí)，X射線衍射現(xiàn)象是一種基于波疊加原理的干涉現(xiàn)象，干涉的結(jié)果隨不同而有所不同（Δ為波程差；λ為波長(zhǎng)）。為整數(shù)的方向，波的振幅得到大程度的加強(qiáng)，稱(chēng)為衍射，對(duì)應(yīng)的方 向?yàn)檠苌浞较?，而為半整數(shù)的方向，波的振幅得到大程度的抵消。因此，X射線通過(guò)晶體之后，在某些方向（衍射方向）X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)，而另一些方向X射線強(qiáng)度卻減弱甚至消失 ，如果在晶體的背后放置一張感光底片，將會(huì)得到X射線的衍射圖形。合肥衍射儀生產(chǎn)廠家有哪些