X射線衍射照相法的原理是什么？ 照相法以光源發出的特征X射線照射多晶樣品，并用底片記錄衍射花樣。根據樣品與底片的相對位置，照相法可以分為德拜法、聚焦法其中德拜法應用為普遍。 當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有 X射線衍射分析相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。X射線粉末衍射技術是主流的X射線衍射分析技術。安徽奧林巴斯XRD批發廠家

用x射線照射固體時，由于光電效應，原子的某一能級的電子被擊出物體之外，此電子稱為光電子。 如果x射線光子的能量為hν，電子在該能級上的結合能為eb，射出固體后的動能為ec，則它們之間的關系為： hν=eb+ec+ws 式中ws為功函數，它表示固體中的束縛電子除克服各別原子核對它的吸引外，還必須克服整個晶體對它的吸引才能逸出樣品表面，即電子逸出表面所做的功。上式可另表示為： eb＝hν-ec-ws 可見，當入射x射線能量一定后，若測出功函數和電子的動能，即可求出電子的結合能。由于只有表面處的光電子才能從固體中逸出，因而測得的電子結合能必然反應了表面化學成份的情況。這正是光電子能譜儀的基本測試原理。臺州衍射儀代理哪家好衍射儀的特點分析。歡迎來電咨詢上海澤權！

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物質，都有其特定的晶體結構，包括點陣類型、晶面間距等參數，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質受激發，會產生二次熒光X射線（標識X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置（峰位）可以進行化合物的定性分析，測定譜線的積分強度（峰強度）可以進行定量分析，而測定譜線強度隨角度的變化關系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。

當X射線波長λ已知時（選用固定波長的特征X射線），采用細粉末或細粒多晶體的線狀樣品，可從一堆任意取向的晶體中，從每個θ角符合布拉格條件的反射面得到反射。測出θ后，利用布拉格公式即可確定點陣平面間距d、晶胞大小和晶胞類型。利用X射線結構分析中的粉末法或德拜-謝樂(Debye—Scherrer)法的理論基礎，測定衍射線的強度，就可進一步確定晶胞內原子的排布。而在測定單晶取向的勞厄法中所用單晶樣品保持固定不變動（即θ不變），以輻射線束的波長λ作為變量來保證晶體中一切晶面都滿足布拉格條件，故選用連續X射線束。再把結構已知晶體（稱為分析晶體）用來作測定，則在獲得其衍射線方向θ后，便可計算X射線的波長λ，從而判定產生特征X射線的元素。這便是X射線譜術，可用于分析金屬和合金的成分。X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質。

衍射（diffraction）又稱為繞射，波遇到障礙物或小孔后通過散射繼續傳播的現象。衍射現象是波的特有現象，一切波都會發生衍射現象。 如果采用單色平行光，則衍射后將產生干涉結果。相干波在空間某處相遇后，因位相不同，相互之間產生干涉作用，引起相互加強或減弱的物理現象。 衍射的結果是產生明暗相間的衍射花紋，表示著衍射方向（角度）和強度。 x射線照射晶體，電子受迫振動產生相干散射；同一原子內各電子散射波相互干涉形成原子散射波．由于晶體內各原子呈周期排列，因而各原子散射波問也存在固定的位相關系而產生干涉作用，在某些方向上發生相長干涉，即形成了衍射波．由此可知，衍射的本質是晶體中各原子相干散射波疊加(合成)的結果．衍射和干涉其物理本質是一樣的！！！！都是光的干涉。上海澤權衍射儀誠信經營。歡迎來電咨詢上海澤權！上海奧林巴斯BTX小型臺式XRD廠家

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衍射儀是進行X射線分析的重要設備，主要由X射線發生器、測角儀(測量角度2θ的裝置)、記錄儀(測量X射線強度的計數裝置)和水冷卻系統組成。新型的衍射儀還帶有條件輸入和數據處理系統。X射線發生器主要由高壓控制系統和X光管組成，它是產生X射線的裝置(產生X射線的裝置)，由X光管發射出的X射線包括連續X射線光譜和特征X射線光譜，連續X射線光譜主要用于判斷晶體的對稱性和進行晶體定向的勞埃法，特征X射線用于進行晶體結構研究的旋轉單體法和進行物相鑒定的粉末法。安徽奧林巴斯XRD批發廠家