深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-03-22

在微波雷達(dá)寬頻測試中，欣同達(dá)測試座對信號損耗進行了有效控制。微波雷達(dá)系統(tǒng)的工作頻段較寬，不同頻段的信號特性存在差異，對測試座的信號損耗控制提出了挑戰(zhàn)。欣同達(dá)測試座采用了寬帶匹配技術(shù)，優(yōu)化了測試座的阻抗匹配，減少了信號在傳輸過程中的反射和損耗。同時，通過采用低損耗的射頻材料和優(yōu)化的電路布局，進一步降低了信號損耗。在實際測試中，欣同達(dá)測試座在微波雷達(dá)常用的寬頻范圍內(nèi)，信號損耗可控制在極小范圍內(nèi)，確保了測試信號的完整性和準(zhǔn)確性，為微波雷達(dá)芯片的寬頻性能測試提供了可靠的保障。?

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