《光刻膠：芯片制造的“畫筆”》**作用光刻膠（Photoresist）是半導體光刻工藝的關鍵材料，涂覆于硅片表面，經曝光、顯影形成微細圖形，傳遞至底層實現電路雕刻。其分辨率直接決定芯片制程（如3nm）。工作原理正膠：曝光區域溶解（常用DNQ-酚醛樹脂體系）。負膠：曝光區域交聯固化（環氧基為主）。流程：勻膠→前烘→曝光→后烘→顯影→蝕刻/離子注入。性能指標參數要求（先進制程）分辨率≤13nm（EUV膠）靈敏度≤20mJ/cm2（EUV）線寬粗糙度≤1.5nm抗刻蝕性比硅高5倍以上光刻膠在存儲器芯片（DRAM/NAND）中用于高密度存儲單元的刻蝕掩模。河南進口光刻膠耗材

《光刻膠的“體檢報告”：性能表征與評估方法》**內容： 列舉評估光刻膠性能的關鍵參數和測試方法。擴展點： 膜厚與均勻性（橢偏儀）、靈敏度曲線、分辨率與調制傳遞函數MTF、LER/LWR測量（CD-SEM）、抗蝕刻性測試、缺陷檢測等。《光刻膠與光源的“共舞”：波長匹配與協同進化》**內容： 闡述光刻膠與曝光光源波長必須緊密匹配。擴展點： 不同波長光源（g-line 436nm, i-line 365nm, KrF 248nm, ArF 193nm, EUV 13.5nm）要求光刻膠具有不同的吸收特性和光化學反應機制，兩者的發展相互推動。湖北LCD光刻膠在集成電路制造中，光刻膠用于定義晶體管、互連線和接觸孔的圖形。

《化學放大光刻膠（CAR）：DUV時代的***》技術突破化學放大光刻膠（ChemicalAmplifiedResist,CAR）通過光酸催化劑（PAG）實現“1光子→1000+反應”，靈敏度提升千倍，支撐248nm（KrF）、193nm（ArF）光刻。材料體系KrF膠：聚對羥基苯乙烯（PHS）+DNQ/磺酸酯PAG。ArF膠：丙烯酸酯共聚物（避免苯環吸光）+鎓鹽PAG。頂層抗反射層（TARC）：減少駐波效應（厚度≈光波1/4λ）。工藝挑戰酸擴散控制：PAG尺寸<1nm，后烘溫度±2°C精度。缺陷控制：顯影后殘留物需<0.001個/?。光刻膠的線邊緣粗糙度（LER）是影響芯片性能的關鍵因素之一。

MEMS傳感器依賴厚膠光刻（如SU-8膠）實現高深寬比的微結構加工。河南進口光刻膠耗材