單晶射線衍射儀是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器， 額定功率:50kv 40mA。CCD探測(cè)器：62mm 4K CCD芯片，Mo 光源增益>170電子/X光子； X-射線發(fā)生器：功率3kW，Mo靶陶瓷X射線光管； 三軸（ω,2θ,φ）測(cè)角儀:φ360o旋轉(zhuǎn)≤0.02o步長(zhǎng)，角度重現(xiàn)性±0.0001o； Kryo-Flex低溫系統(tǒng)。 該儀器主要用于單晶樣品晶胞參數(shù)，單晶結(jié)構(gòu)測(cè)定 ，包括孿晶的有機(jī)、無機(jī)化合物分子的準(zhǔn)確三維立體結(jié)構(gòu)，并通過先進(jìn)的結(jié)構(gòu)解析軟件給出包括鍵長(zhǎng)、鍵角、構(gòu)型、構(gòu)象乃至成鍵電子密度等分子參數(shù)及分子在晶格中的排列狀況。X射線是一種電磁波,入射到晶體時(shí)在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場(chǎng)。臺(tái)州衍射儀供應(yīng)商

衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計(jì)的，是常規(guī)分析與特殊目的測(cè)量相結(jié)合的完善產(chǎn)品。 硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的有效結(jié)合，滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要 高精度的衍射角度測(cè)量系統(tǒng)，獲取更準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果 高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測(cè)量精度 各種功能附件滿足不同測(cè)試目的需要 程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)便、儀器外型更美觀 X射線衍射儀是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息的一種通用性測(cè)試儀器： 未知樣品中一種和多種物相鑒定 混合樣品中已知相定量分析 晶體結(jié)構(gòu)解析（Rietveld結(jié)構(gòu)分析） 非常規(guī)條件下晶體結(jié)構(gòu)變化（高溫、低溫條件下） 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度 微區(qū)樣品的分析 金屬材料織構(gòu)、應(yīng)力分析。浙江奧林巴斯XRD報(bào)價(jià)多少錢使用粉末多晶衍射儀測(cè)量單晶體樣品時(shí)得到的X射線衍射譜。

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會(huì)產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識(shí)X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測(cè)定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析，測(cè)定譜線的積分強(qiáng)度（峰強(qiáng)度）可以進(jìn)行定量分析，而測(cè)定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測(cè)。

“x射線衍射儀"可分為"x射線粉末衍射儀"和"x射線單晶衍射儀器".由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難。所以目前x射線粉末衍射技術(shù)是主流的x射線衍射分析技術(shù)。單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu)。粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu)。但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復(fù)雜的很難分析。 x射線粉末衍射可以 1，判斷物質(zhì)是否為晶體。 2，判斷是何種晶體物質(zhì)。 3，判斷物質(zhì)的晶型。 4，計(jì)算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力。 5，定量計(jì)算混合物質(zhì)的比例。 6，計(jì)算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)。 7，和其他專業(yè)相結(jié)合會(huì)有更普遍的用途。一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉。

x射線衍射在金屬學(xué)中的應(yīng)用 x射線衍射現(xiàn)象發(fā)現(xiàn)后，很快被用于研究金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)，出現(xiàn)了許多具有重大意義的結(jié)果。如（）(1922年)證明α、β和δ鐵都是立方結(jié)構(gòu)，β-fe并不是一種新相;而鐵中的α─→γ轉(zhuǎn)變實(shí)質(zhì)上是由體心立方晶體轉(zhuǎn)變?yōu)槊嫘牧⒎骄w，從而終否定了β-fe硬化理論。隨后,在用x射線測(cè)定眾多金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)的同時(shí)，在相圖測(cè)定以及在固態(tài)相變和范性形變研究等領(lǐng)域中均取得了豐碩的成果。XRD的基本原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。衍射儀的X射線源焦點(diǎn)與計(jì)數(shù)管窗口分別位于測(cè)角儀圓周上，樣品位于測(cè)角儀圓的正中心。浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀代理

X射線衍射儀是對(duì)流體、粉末及塊狀晶體等物質(zhì)的重要無損分析工具。臺(tái)州衍射儀供應(yīng)商

制作粉末衍射儀試片的技巧： 粉末衍射儀要求樣品試片具有一個(gè)十分平整的平面，而且對(duì)平面中的晶粒的取向常常要求是完全無序的，不存在擇優(yōu)取向（在粘土分析中有時(shí)又要求制作定向的試片）。 制作合乎要求的衍射儀試片常用的方法。通常很細(xì)的樣品粉末（手摸無顆粒感），如無明顯的各相異性且在空氣中又穩(wěn)定，則可以用“壓片法”來制作試片。先把衍射儀所附的制樣框用膠紙固定在平滑的玻璃片上（如鏡面玻璃，顯微鏡載玻片等），然后把樣品粉末盡可能均勻地灑入（好是用細(xì)篩子—360 目篩入）制樣框的窗口中，再用小抹刀的刀口輕輕剁緊，使粉末在窗孔內(nèi)攤勻堆好，然后用小抹刀把粉末輕輕壓緊，后用保險(xiǎn)刀片（或載玻片的斷口）把多余凸出的粉末削去，然后，小心地把制樣框從玻璃平面上拿起，便能得到一個(gè)很平的樣品粉末的平面。此法所需樣品粉末量較多，約需0.4cm3。臺(tái)州衍射儀供應(yīng)商

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