便攜式X射線衍射儀是利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來(lái)獲得X射線信號(hào)的特征，并通過處理得到衍射圖樣。利用光譜信息不只可以實(shí)現(xiàn)常規(guī)顯微鏡的位相測(cè)定，還可以觀察晶體中是否存在缺陷（位錯(cuò)）和晶格缺陷。衍射儀具有檢測(cè)速度快、操作簡(jiǎn)單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點(diǎn)，普遍應(yīng)用于粉體、單晶、多晶等大塊材料的測(cè)量。所有系統(tǒng)，從X射線源到光學(xué)元件、測(cè)角儀、樣品臺(tái)和探測(cè)器，都可以自動(dòng)調(diào)節(jié)。當(dāng)自動(dòng)調(diào)整開始時(shí)，儀器將自動(dòng)調(diào)整高度、角度、CBO光學(xué)系統(tǒng)、入射單色儀、狹縫高度、樣品表面位置和探測(cè)器角度至良好狀態(tài)。X射線對(duì)于晶體的衍射強(qiáng)度是由晶體晶胞中原子的元素種類、數(shù)目及其排列方式?jīng)Q定的。江蘇衍射儀工廠

X射線衍射儀技術(shù)（XRD）注意事項(xiàng)： （1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。 （2）對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強(qiáng)度異常，需提供測(cè)試方向。 （3）對(duì)于測(cè)量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），測(cè)量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。 （4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的粒子（原子、離子或分子）所產(chǎn)生的相干散射將會(huì)發(fā)生光的干涉作用，從而使得散射的X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。浙江奧林巴斯XRD批發(fā)公司便攜式X射線衍射儀可能直接分析出巖石的礦物組成及相對(duì)含量。

X射線衍射的一般實(shí)驗(yàn)過程： 1．樣品制備 對(duì)于粉末樣品，通常要求其顆粒的平均粒徑控制在5mm左右，即過320目（約40mm）的篩子，還要求試樣無(wú)擇優(yōu)取向。因此，通常應(yīng)用瑪瑙研缽對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行充分研磨后使用。 對(duì)于塊狀樣品應(yīng)切割出合適的大小，即不超過鋁制樣品架的矩形孔洞的尺寸，另外還要用砂輪和砂紙將其測(cè)試面磨得平整光滑。 2．充填試樣 將適量研磨好的試樣粉末填入樣品架的凹槽中，使粉末試樣在凹槽里均勻分布，并用平整光滑的玻片將其壓緊；將槽外或高出樣品架的多余粉末刮去，然后重新將樣品壓平實(shí)，使樣品表面與樣品架邊緣在同一水平面上。 塊狀樣品直接用橡皮泥或石蠟粘在鋁制樣品架的矩形孔洞中，要求樣品表面與鋁制樣品架表面平齊。

x射線光電子能譜分析： x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測(cè)量由此引起的電子動(dòng)能的分布早在本世紀(jì)初就有報(bào)道，但當(dāng)時(shí)可達(dá)到的分辯率還不足以觀測(cè)到光電子能譜上的實(shí)際光峰。直到1958年，以siegbahn為首的一個(gè)瑞典研究小組觀測(cè)到光峰現(xiàn)象，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來(lái)研究元素的種類及其化學(xué)狀態(tài)，故而取名“化學(xué)分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公認(rèn)為是同義詞而不再加以區(qū)別。X射線熒光光譜儀的原理是什么？

工業(yè)X射線衍射儀是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)進(jìn)行衍射分析時(shí)，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同成都的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子結(jié)構(gòu)、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有個(gè)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。工業(yè)X射線衍射儀的工作環(huán)境要求： 1、建議房間溫度15℃-25℃，溫度變化小于1℃/30分鐘 2、高分辨儀器的房間溫度：22℃±1℃ 3、相對(duì)濕度：20%-80% 4、環(huán)境整潔：定期清潔儀器內(nèi)部以免灰塵聚集在某些重要部件的表面，影響儀器的正常工作。X射線粉末衍射儀適用性很廣，通常用于測(cè)量粉末、單晶或多晶體等塊體材料。鎮(zhèn)江衍射儀價(jià)格哪家便宜

X射線粉末衍射儀, 針對(duì)于測(cè)試樣品為粉末。江蘇衍射儀工廠

X射線衍射擴(kuò)展資料：晶態(tài)物質(zhì)對(duì)X射線產(chǎn)生的相干散射表現(xiàn)為衍射現(xiàn)象，即入射光束出射時(shí)光束沒有被發(fā)散但方向被改變了而其波長(zhǎng)保持不變的現(xiàn)象，這是晶態(tài)物質(zhì)特有的現(xiàn)象。絕大多數(shù)固態(tài)物質(zhì)都是晶態(tài)或微晶態(tài)或準(zhǔn)晶態(tài)物質(zhì)，都能產(chǎn)生X射線衍射。晶體微觀結(jié)構(gòu)的特征是具有周期性的長(zhǎng)程的有序結(jié)構(gòu)。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結(jié)構(gòu)立體場(chǎng)景的一種物理變換，包含了晶體結(jié)構(gòu)的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖,因此，通過樣品的X射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線衍射譜圖的對(duì)比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定；通過對(duì)樣品衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)的分析計(jì)算，可以完成樣品物相組成的定量分析。江蘇衍射儀工廠

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