測角儀是粉末衍射儀上精密的機械部件，用來精確測量衍射角。接收狹縫測角儀上用來限制所接收的衍射光束的寬度。接收狹縫是為了限制待測角度位置附近區域之外的X射線進入檢測器，它的寬度對衍射儀的分辨能力、線的強度以及峰高/背底比有著重要的影響作用。脈沖計數率：在衍射儀方法中，X射線的強度用脈沖計數率表示，單位為每秒脈沖數（cps）。檢測器在單位時間輸出的平均脈沖數，直接決定于檢測器在單位時間接收的光子數。如果檢測器的量子效率為100%，而系統（放大器和脈沖幅度分析器等）又沒有計數損失（漏計），那么每秒脈沖數便是每秒光子數。X射線衍射分析相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉。上海奧林巴斯XRD服務哪家好

樣品的平均晶粒尺寸，基本原理：當X射線入射到小晶體時，其衍射線條將變得彌散而寬化，晶體的晶粒越小，x射線衍射譜帶的寬化程度就越大。樣品的相對結晶度：一般將很強衍射峰積分所得的面積（As）當作計算結晶度的指標，與標準物質積分所得面積(Ag)進行比較，結晶度=As/Ag*100%。物相含量的定量分析：主要有K值法也叫RIR方法和Rietveld全譜精修定量等。其中，RIR法的基本原理為1:1混合的某物質與剛玉(Al2O3),其很強衍射峰的積分強度會有一個比值，該比值為RIR值。通過將該物質的積分強度/RIR值總是可以換算成Al2O3的積分強度。對于一個混合物而言，物質中所有組分都按這種方法進行換算，可以通過歸一法得到某一特定組分的百分含量。安慶衍射儀價錢多少衍射儀是為材料研究和工業產品分析設計的，是常規分析與特殊目的測量相結合的完善產品。

描述X射線衍射條件，還可以用布拉格方程： 2dsinθ＝nλ式中d為相鄰兩個晶面之間的距離；θ為入射線或反射線與晶面的交角；λ為X射線波長；n為正整數。布拉格方程與勞厄方程雖然表達方式不同，但其實質是相同的。當 X射線的波長與入射線方向以及晶體方位確定以后，勞厄方程中的λ、、b、c、0、β0、γ0 都已確定，只有、β、γ是變量，它們必須滿足勞厄方程，但是，、β、γ3個變量不是單獨的，例如在直角坐標中應滿足：cos2＋cos2β＋cos2γ＝1這就是說，3個變量、β、γ應同時滿足4個方程，這在一般條件下是不可能的，因而得不到衍射圖。為了解決這個問題，必須再增加一個變數，有兩種辦法可供選擇：①晶體不動（0、β0、γ0固定），改變波長λ，即采用白色X射線，這種方法稱為勞厄法；②波長不變，即用單色X射線 ，讓晶體繞某晶軸轉動，即改變0、β0、γ0 。這樣可在某些特定的晶體方位得到衍射圖，這種方法叫做轉動晶體法。以上兩種方法都是對單晶體而言的。如果晶體是多晶，每個小單晶體在空間的取向是隨機的，勞厄方程總可以得到滿足，這就是粉末法的基礎。

衍射儀中K系射線又可以細分為Kα（L層電子填充）和Kβ（M層電子填充）兩種波長略有差異的兩種射線。而X射線衍射儀要求使用單色X射線。因此，需要在XRD測試時把后者除掉，傳統的方法是在光路上加入一個濾波片（如Ni）。現在一般使用銅靶，在光路上增加一個石墨晶體單色器來去除Kβ射線。單色器可以去除衍射背底，也可以去除Kβ射線的干擾。XRD全譜很難直觀地表現衍射圖樣的變化，而為了更好地說明情況，一般將某個特征峰（常見為主峰）進行放大（也可以在XRD測試時，只選取某個較小范圍進行測試），然后比較其衍射峰位置。選擇衍射儀有哪些方法？歡迎來電咨詢上海澤權！

野外作業，環境的惡劣程度對衍射儀有了更高的要求，而X射線衍射儀配備了防風防雨、堅固耐用的外殼，在軟件方面，分析儀使用的軟件簡潔直觀，既可以單屏控制面板現實多種數據，還能預先設置校準程序，并且輕松導出數據。同時配備一個獨特的小樣品托架，只需15毫克樣品就可以完成分析，提升工作效率，在野外完成礦物檢測獲得礦物主要成分和次要成分信息的決勝關鍵。這款進口X射線衍射儀機身小巧，將性能強大的軟件和改進的X射線探測器結合在一起使用，提高了檢測的速度和靈敏度，可以讓用戶迅速及時且充滿自信地做出決策。上海澤權衍射儀誠信經營。歡迎來電咨詢上海澤權！馬鞍山衍射儀哪家可以代理

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X射線是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力。對物質進行物相分析、定性分析、定量分析。X射線單晶體衍射儀(X-raysinglecrystaldiffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律，也即解出晶體的結構。物質或由其構成的材料的性能是與晶體的結構密切相關的，如金剛石和石墨都是由純的碳構成的，由于它們的晶體結構不同就有著截然不同的性質。上海奧林巴斯XRD服務哪家好