X射線(xiàn)衍射儀技術(shù)(XRD)是通過(guò)對(duì)樣品進(jìn)行X射線(xiàn)衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的一種儀器，是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法，X射線(xiàn)衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例；很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度；新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)；產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀(guān)應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀(guān)應(yīng)力；納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線(xiàn)衍射線(xiàn)線(xiàn)寬法(謝樂(lè)法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。衍射儀可以長(zhǎng)期合作嗎？歡迎來(lái)電咨詢(xún)上海澤權(quán)！安慶衍射儀哪里有
X射線(xiàn)衍射的方法有很多。 按使用的樣品可分為：?jiǎn)尉Хê投嗑Х勰┓ǎ?按記錄檢測(cè)方法可分有：照相法和衍射譜儀（計(jì)算器）法。 基本的X射線(xiàn)衍射方法有三種：平板照相法、旋晶法和多晶粉末法。 1、平板照相法（平面底片法） 2、園筒底片法（又叫回轉(zhuǎn)照相法或旋晶法） （1）、回轉(zhuǎn)照相法 （2）、魏森堡（Weissenberg）照相法 （3）、多晶粉末德拜-謝樂(lè)照相法 （4）、多晶粉末衍射儀法 （5）、其它X射線(xiàn)衍射儀 a、計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制的四圓單晶衍射儀 b、轉(zhuǎn)靶X射線(xiàn)衍射儀 c、面探測(cè)器X射線(xiàn)衍射儀 d、同步輻射衍射分析。上海奧林巴斯XRD定制公司X射線(xiàn)衍射儀是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息的一種通用性測(cè)試儀器。
x射線(xiàn)的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線(xiàn)的空間衍射光柵，即一束X射線(xiàn)照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線(xiàn)的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。對(duì)于晶體材料，當(dāng)待測(cè)晶體與入射束呈不同角度時(shí)，那些滿(mǎn)足布拉格衍射的晶面就會(huì)被檢測(cè)出來(lái)，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強(qiáng)度的衍射峰。對(duì)于非晶體材料，由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長(zhǎng)程有序，只是在幾個(gè)原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。
便攜式X射線(xiàn)衍射儀是一種用于土木建筑工程領(lǐng)域的物理性能測(cè)試儀器。便攜性：儀器小型化，無(wú)需專(zhuān)業(yè)的實(shí)驗(yàn)室，無(wú)需水循環(huán)冷卻系統(tǒng)；快速檢測(cè)：全譜顯示而非步進(jìn)掃描，普通樣品3分鐘內(nèi)即可完成分析。特征X射線(xiàn)及其衍射X射線(xiàn)是一種波長(zhǎng)很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線(xiàn)，它具有靶中元素相對(duì)應(yīng)的特定波長(zhǎng)，稱(chēng)為特征X射線(xiàn)。如銅靶對(duì)應(yīng)的X射線(xiàn)波長(zhǎng)為0.154056nm。X射線(xiàn)衍射儀的英文名稱(chēng)是X-rayPowderdiffractometer簡(jiǎn)寫(xiě)為XPD或XRD。有時(shí)會(huì)把它叫做x射線(xiàn)多晶體衍射儀，英文名稱(chēng)為X-raypolycrystallinediffractometer簡(jiǎn)寫(xiě)仍為XPD或XRD。單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu)。
衍射儀中K系射線(xiàn)又可以細(xì)分為Kα（L層電子填充）和Kβ（M層電子填充）兩種波長(zhǎng)略有差異的兩種射線(xiàn)。而X射線(xiàn)衍射儀要求使用單色X射線(xiàn)。因此，需要在XRD測(cè)試時(shí)把后者除掉，傳統(tǒng)的方法是在光路上加入一個(gè)濾波片（如Ni）。現(xiàn)在一般使用銅靶，在光路上增加一個(gè)石墨晶體單色器來(lái)去除Kβ射線(xiàn)。單色器可以去除衍射背底，也可以去除Kβ射線(xiàn)的干擾。XRD全譜很難直觀(guān)地表現(xiàn)衍射圖樣的變化，而為了更好地說(shuō)明情況，一般將某個(gè)特征峰（常見(jiàn)為主峰）進(jìn)行放大（也可以在XRD測(cè)試時(shí)，只選取某個(gè)較小范圍進(jìn)行測(cè)試），然后比較其衍射峰位置。歡迎致電上海澤權(quán)咨詢(xún)衍射儀。歡迎來(lái)電咨詢(xún)上海澤權(quán)！浙江奧林巴斯XRD有哪些品牌
目前常用的收集單晶體衍射數(shù)據(jù)的方法是：一為回?cái)[法，二為四圓衍射儀法。安慶衍射儀哪里有
描述X射線(xiàn)衍射條件，還可以用布拉格方程： 2dsinθ＝nλ式中d為相鄰兩個(gè)晶面之間的距離；θ為入射線(xiàn)或反射線(xiàn)與晶面的交角；λ為X射線(xiàn)波長(zhǎng)；n為正整數(shù)。布拉格方程與勞厄方程雖然表達(dá)方式不同，但其實(shí)質(zhì)是相同的。當(dāng) X射線(xiàn)的波長(zhǎng)與入射線(xiàn)方向以及晶體方位確定以后，勞厄方程中的λ、、b、c、0、β0、γ0 都已確定，只有、β、γ是變量，它們必須滿(mǎn)足勞厄方程，但是，、β、γ3個(gè)變量不是單獨(dú)的，例如在直角坐標(biāo)中應(yīng)滿(mǎn)足：cos2＋cos2β＋cos2γ＝1這就是說(shuō)，3個(gè)變量、β、γ應(yīng)同時(shí)滿(mǎn)足4個(gè)方程，這在一般條件下是不可能的，因而得不到衍射圖。為了解決這個(gè)問(wèn)題，必須再增加一個(gè)變數(shù)，有兩種辦法可供選擇：①晶體不動(dòng)（0、β0、γ0固定），改變波長(zhǎng)λ，即采用白色X射線(xiàn)，這種方法稱(chēng)為勞厄法；②波長(zhǎng)不變，即用單色X射線(xiàn) ，讓晶體繞某晶軸轉(zhuǎn)動(dòng)，即改變0、β0、γ0 。這樣可在某些特定的晶體方位得到衍射圖，這種方法叫做轉(zhuǎn)動(dòng)晶體法。以上兩種方法都是對(duì)單晶體而言的。如果晶體是多晶，每個(gè)小單晶體在空間的取向是隨機(jī)的，勞厄方程總可以得到滿(mǎn)足，這就是粉末法的基礎(chǔ)。安慶衍射儀哪里有