ROHS元素分析儀的性能特點：下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求；準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用；移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點；高分辨率探測器：提高分析的準確性；高壓電源和X光管：性能好，高達50W的功率實現更高的測試效果。而XRAY金屬厚度測試儀常用金屬鍍層測厚分析，并具有開放性工作曲線功能，能根據具體需求添加適合現場使用的鍍層測試工作曲線，能夠滿足所有金屬鍍層測厚分析。基本原理：超聲波測量厚度的原理與光波測量原理相似。探頭發射的超聲波脈沖到達背測物體并在物體中傳播，到達材料分界面時被反射回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。合金分析儀具備優異的金屬分析能力，1-2秒內可判定金屬品種。上海RoHS分析儀哪家靠譜

手持式分光儀合金分析儀是一種便攜式儀器，只需準備少量樣品，即可迅速提供檢測結果。手持式光譜儀合金分析儀使用低功率的x射線管。發射的x射線和返回的x射線都是低功率的，測量時必須使分析儀接近樣品。理想的是使樣品直接接觸分析儀的測量窗。如果樣品具有復雜的幾何形狀，則難以檢測，但分析儀的主體較窄，可以盡量接近斜面樣品。例如，90度與管道焊接的法蘭。使用于XRF分析技術中的x射線的物理特性幾乎不會隨著樣本溫度的變化而變化。另外，分析裝置的設計目標是不受環境條件變化的影響，始終發揮可靠的測定性能。分析儀在-10°C到50°C的溫度范圍內工作時，不會發生熱漂移和性能下降。合金分析儀分析儀不經改造，樣品溫度達到約100°C時可正常測定樣品。超過該溫度時，作為分析儀窗的一部分的聚丙烯纖維薄膜容易破損。向用戶提供高溫檢查時可使用的高溫墊圈。該高溫墊片含有聚酰亞胺的窗，分析儀能夠測定出溫度高達315°C的樣品。北京便攜式RoHS分析儀報價X熒光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射，凡間是指能t局限在0.1^-100keV的光子。

手持式ROHS分析儀工作原理：該分析檢測儀重量輕（1.6kg），操作簡單，一鍵式按鈕、長時間工作無疲勞感，可適用于-10°C至+50°C任何場所。該款ROHS分析檢測儀帶有手握把和可以延伸的探頭，是生產線、倉庫和出口作業分析檢測的好幫手。1、掌上電腦i-PAQ，微軟WindowsCE操作系統；2、一鍵操作，自動判斷材料類別(塑料、合金)和選擇校正方法；3、一次同時分析25種元素，包含ROHS五元素；4、多功能PDA界面實時顯示測試數據和光譜圖；5、內置IEC標準，進行簡單的“Pass/Fail”判定；6、快速、可靠和無破壞的高通量篩選和分析。7、無樣品尺寸的限制8、全球市場體積較小，質量較輕，適合生產工藝制程控制9、穿透土堆的厚度大于80m。10、輻射量相當于太陽光的1/25011、通過中國SGS的輻射和ROHS誤差檢測12、符合ROHSWEEEProp加州65法案13、對PVC中的溴化物（阻燃劑）進行快速檢測14、可建立企業標準。

XRF奧林巴斯手持光譜儀，XRF奧林巴斯伊諾斯手持光譜儀，奧林巴斯伊諾斯分析檢測具有分析檢測領域寬，可分析檢測所有金屬板材，分析檢測速度快，效率高，分析檢測速度可達10m/min以上。奧林巴斯伊諾斯在水下分析檢測能消除分析檢測時產生的噪聲，粉塵、有害氣體和弧光的污染，有效地改善工作場合的環境。采用精細奧林巴斯伊諾斯分析檢測已使分析檢測質量接近XRF分析檢測水平，目前跟著大功率奧林巴斯伊諾斯分析檢測技術的成熟，分析檢測厚度已超過150mm，拓寬了XRF奧林巴斯伊諾斯手持光譜儀分析檢測范圍。選購ROHS分析儀，要明確檢測的元素范圍和基體類型，這樣才好決定選購哪種光譜儀器。

手持式光譜儀合金分析儀不能直接檢測出比鎂輕的元素。無法檢測的元素包括鋰、鈹、碳等合金元素。這些元素包括不同的應用程序。手持分光器合金分析儀的操作方案包括:(1)發射x射線；(2)X射線返回到檢測器；x射線熒光是一種表面檢測技術。在一些輕合金中，例如鋁合金、XRF技術只能檢測樣品表面以下的數百微米的深度。一些主要金屬，例如鐵、銅或XRF技術可檢測的樣品深度不大于100μm。對于致密的材料，例如金和鉛，只能檢測樣品表面以下幾十微米的深度。這意味著在用x射線熒光技術進行檢查的情況下，如果材料的表面不正確表現材料整體的構成成分，則不能得到可靠的檢查數據。表面污染，例如油漆、保護層、鍍層，分析結果可能會很大歪曲。同樣，噴砂、噴砂處理、研磨后殘留在表面的物質以及污垢可能會影響材料成分的判別結果。因此，在使用XRF技術檢查樣品之前，請務必清潔樣品。X射線光譜儀與物質的互相效果首要有熒光、接收和散射三種。廣東手持式RoHS分析儀廠商

服務良好的合金元素分析儀制造商制造的合金元素分析儀使用x射線進行熒光分析。上海RoHS分析儀哪家靠譜

X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被普遍用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時受基體的影響小，在地質、采礦和冶金等部門應用很廣。上海RoHS分析儀哪家靠譜