x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。對于晶體材料，當(dāng)待測晶體與入射束呈不同角度時(shí)，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強(qiáng)度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長程有序，只是在幾個(gè)原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。普遍應(yīng)用于冶金，科研，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。“x射線衍射儀"可分為"x射線粉末衍射儀"和"x射線單晶衍射儀器"。淮南衍射儀生產(chǎn)廠家

衍射出現(xiàn)在滿足布拉格條件的角度上，這可以理解。但是，X射線衍射是因?yàn)閄射線與原子發(fā)生彈性碰撞，原子向四面八方散射頻率相同的X射線，書上講的衍射方向都是與入射方向夾角為2西塔，難道就不可能在其他方向上（即入射角和反射角不相等）恰好滿足布拉格條件嗎？恰好滿足布拉格條件的就是2θ方向。在其他方向上的也有，但都被許許多多散射光之間相互抵消、成為光強(qiáng)很弱甚至為0的圖案、成為觀測區(qū)域內(nèi)的背景。X射線衍射儀特征X射線及其衍射X射線是一種波長很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線，它具有靶中元素相對應(yīng)的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應(yīng)的X射線波長為0.154056 nm。X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡寫為XPD或XRD。有時(shí)會把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡寫仍為XPD或XRD。上海奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀價(jià)格是多少X射線衍射儀配備了防風(fēng)防雨、堅(jiān)固耐用的外殼。

當(dāng)x射線以掠角θ(入射角的余角)入射到某一點(diǎn)陣晶格間距為d的晶面上時(shí),在符合上式的條件下，將在反射方向上得到因疊加而加強(qiáng)的衍射線。布拉格方程簡潔直觀地表達(dá)了衍射所必須滿足的條件。當(dāng) x射線波長λ已知時(shí)(選用固定波長的特征x射線)，采用細(xì)粉末或細(xì)粒多晶體的線狀樣品,可從一堆任意取向的晶體中，從每一θ角符合布拉格方程條件的反射面得到反射,測出θ后，利用布拉格方程即可確定點(diǎn)陣晶面間距、晶胞大小和類型;根據(jù)衍射線的強(qiáng)度,還可進(jìn)一步確定晶胞內(nèi)原子的排布。這便是x射線結(jié)構(gòu)分析中的粉末法或德拜-謝樂(debye—scherrer)法的理論基礎(chǔ)。而在測定單晶取向的勞厄法中所用單晶樣品保持固定不變動（即θ不變）,以輻射束的波長作為變量來保證晶體中一切晶面都滿足布拉格方程的條件,故選用連續(xù)x射線束。如果利用結(jié)構(gòu)已知的晶體，則在測定出衍射線的方向θ后,便可計(jì)算x射線的波長，從而判定產(chǎn)生特征x射線的元素。這便是x射線譜術(shù),可用于分析金屬和合金的成分。

X射線衍射儀技術(shù)(X-raydiffraction，XRD)。通過對材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。X射線粉末衍射儀, 針對于測試樣品為粉末。

x射線衍射在金屬學(xué)中的應(yīng)用 x射線衍射現(xiàn)象發(fā)現(xiàn)后，很快被用于研究金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)，出現(xiàn)了許多具有重大意義的結(jié)果。如（）(1922年)證明α、β和δ鐵都是立方結(jié)構(gòu)，β-fe并不是一種新相;而鐵中的α─→γ轉(zhuǎn)變實(shí)質(zhì)上是由體心立方晶體轉(zhuǎn)變?yōu)槊嫘牧⒎骄w，從而終否定了β-fe硬化理論。隨后,在用x射線測定眾多金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)的同時(shí)，在相圖測定以及在固態(tài)相變和范性形變研究等領(lǐng)域中均取得了豐碩的成果。XRD的基本原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。X射線衍射即XRD，通過對材料進(jìn)行X射線衍射。泰州衍射儀多少錢

納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。淮南衍射儀生產(chǎn)廠家

X射線衍射分析的粉末樣品時(shí)的要求是什么?雖然很多固體樣品本身已處于微晶狀態(tài)，但通常卻是較粗糙的粉末顆粒或是較大的集結(jié)塊，更多數(shù)的固體樣品則是具有或大或小晶粒的結(jié)晶織構(gòu)或者是可以辨認(rèn)出外形的粗晶粒，因此實(shí)驗(yàn)時(shí)一般需要先加工成合用的細(xì)粉末。因?yàn)榇蠖鄶?shù)固體顆粒是易碎的，所以常用的方法是研磨和過篩，只有當(dāng)樣品是十分細(xì)的粉末，手摸無顆粒感，才可以認(rèn)為晶粒的大小已符合要求。持續(xù)的在研缽或在球磨中研磨至<360 目的粉末，可以有效的得到足夠細(xì)的顆粒。制備粉末需根據(jù)不同的具體情況采用不同的方法。對于一些軟而不便研磨的物質(zhì)（無機(jī)物或者有機(jī)物），可以用干冰或液態(tài)空氣冷卻至低溫，使之變脆，然后進(jìn)行研磨。若樣品是一些具有不同硬度和晶癖的物質(zhì)的混合物，研磨時(shí)較軟或易于解理的部分容易被粉化而包裹較硬部分的顆粒，因此需要不斷過篩，分出已粉化的部分，后把全部粉末充分混合后再制作實(shí)驗(yàn)用的試樣。淮南衍射儀生產(chǎn)廠家