分析電子衍射與x射線衍射有何區(qū)別？相同點是兩者都是可以把晶體看做一個三維的光柵，對不同位置的原子散射的波進行疊加求和，反映的晶格的對稱性信息；不同點是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢場的散射，電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強烈一些，往往不止發(fā)生一次散射，即要考慮動力學(xué)效應(yīng)，x射線是與核外電子發(fā)生作用，與核外的電子分布情況相關(guān)。實用角度的答案，在確定晶體對稱性上，通常是用x射線來定的，因為動力學(xué)效應(yīng)很弱，不會出現(xiàn)本來消光的斑點位置因為多次散射的原因又出現(xiàn)亮斑的情況，因此便于分析，另外很重要的一個原因是x射線的制樣更加容易。上海澤權(quán)的衍射儀是否結(jié)實耐用？歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀哪家可以代理

X射線衍射工作原理： X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的粒子（原子、離子或分子）所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用，從而使得散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量粒子散射波的疊加，互相干涉而產(chǎn)生大強度的光束稱為X射線的衍射線 滿足衍射條件，可應(yīng)用布拉格公式：2dsinθ=nλ 應(yīng)用已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析；另一個是應(yīng)用已知d的晶體來測量θ角，從而計算出特征X射線的波長，進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。 XRD分析常用的軟件有有Pcpdgwin，Search match，High score和Jade，比較常用的是后兩種。上海奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀生產(chǎn)廠家哪家好分析電子衍射與x射線衍射有何區(qū)別？

多晶X射線衍射儀，也稱粉末衍射儀，通常用于測量粉末、多晶體金屬或者高聚物塊體材料等。主要由四個部分構(gòu)成：X射線發(fā)生器(產(chǎn)生X射線的裝置);測角儀(測量角度2θ的裝置);X射線探測器(測量X射線強度的計數(shù)裝置);X射線系統(tǒng)控制裝置(數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和各種電氣系統(tǒng)、保護系統(tǒng)等).測角儀（包括狹縫系統(tǒng)）、探測器等都是X射線衍射儀中非常關(guān)鍵的組成部分，不過原理較為枯燥，而實際處理數(shù)據(jù)時基本不會用到。這里暫時省略，如果大家確實對XRD原理有興趣可以留言，我們可以在下一期補上。

制作粉末衍射儀試片的技巧： 粉末衍射儀要求樣品試片具有一個十分平整的平面，而且對平面中的晶粒的取向常常要求是完全無序的，不存在擇優(yōu)取向（在粘土分析中有時又要求制作定向的試片）。 制作合乎要求的衍射儀試片常用的方法。通常很細(xì)的樣品粉末（手摸無顆粒感），如無明顯的各相異性且在空氣中又穩(wěn)定，則可以用“壓片法”來制作試片。先把衍射儀所附的制樣框用膠紙固定在平滑的玻璃片上（如鏡面玻璃，顯微鏡載玻片等），然后把樣品粉末盡可能均勻地灑入（好是用細(xì)篩子—360 目篩入）制樣框的窗口中，再用小抹刀的刀口輕輕剁緊，使粉末在窗孔內(nèi)攤勻堆好，然后用小抹刀把粉末輕輕壓緊，后用保險刀片（或載玻片的斷口）把多余凸出的粉末削去，然后，小心地把制樣框從玻璃平面上拿起，便能得到一個很平的樣品粉末的平面。此法所需樣品粉末量較多，約需0.4cm3。x射線粉末衍射可以和其他專業(yè)相結(jié)合會有更普遍的用途。

取向分析包括測定單晶取向和多晶的結(jié)構(gòu)（如擇優(yōu)取向）。測定硅鋼片的取向就是一例。另外，為研究金屬的范性形變過程，如孿生、滑移、滑移面的轉(zhuǎn)動等，也與取向的測定有關(guān)。晶粒（嵌鑲塊）大小和微觀應(yīng)力的測定由衍射花樣的形狀和強度可計算晶粒和微應(yīng)力的大小。在形變和熱處理過程中這兩者有明顯變化，它直接影響材料的性能。宏觀應(yīng)力的測定宏觀殘留應(yīng)力的方向和大小，直接影響機器零件的使用壽命。利用測定點陣平面在不同方向上的間距的改變，可計算出殘留應(yīng)力的大小和方向。X射線粉末衍射技術(shù)是主流的X射線衍射分析技術(shù)。江蘇衍射儀品牌

X 射線衍射是晶體的“指紋”。浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀哪家可以代理

X射線衍射的一般實驗過程： 1．樣品制備 對于粉末樣品，通常要求其顆粒的平均粒徑控制在5mm左右，即過320目（約40mm）的篩子，還要求試樣無擇優(yōu)取向。因此，通常應(yīng)用瑪瑙研缽對待測樣品進行充分研磨后使用。 對于塊狀樣品應(yīng)切割出合適的大小，即不超過鋁制樣品架的矩形孔洞的尺寸，另外還要用砂輪和砂紙將其測試面磨得平整光滑。 2．充填試樣 將適量研磨好的試樣粉末填入樣品架的凹槽中，使粉末試樣在凹槽里均勻分布，并用平整光滑的玻片將其壓緊；將槽外或高出樣品架的多余粉末刮去，然后重新將樣品壓平實，使樣品表面與樣品架邊緣在同一水平面上。 塊狀樣品直接用橡皮泥或石蠟粘在鋁制樣品架的矩形孔洞中，要求樣品表面與鋁制樣品架表面平齊。浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀哪家可以代理