測(cè)量表面溫度一般采用非接觸紅外高溫計(jì)，必須注意在測(cè)量時(shí)需要調(diào)整紅外熱像儀所使用的發(fā)射率ε，發(fā)射率是材料及其表面狀況的特性，采用不正確的發(fā)射率會(huì)產(chǎn)生明顯的測(cè)量誤差。有兩種方法可以在靜態(tài)表面上校準(zhǔn)發(fā)射率，***個(gè)方法是使用接觸式高溫計(jì)測(cè)量溫度，然后將紅外高溫計(jì)指向同一點(diǎn)并調(diào)整發(fā)射率，直到溫度讀數(shù)與接觸式溫度計(jì)的讀數(shù)相同；第二個(gè)方法是在被測(cè)表面粘上黑膠布，或者涂上黑漆，然后用測(cè)得的溫度校準(zhǔn)紅外高溫計(jì)。常用特定溫度下水泥窯系統(tǒng)表面發(fā)射率見(jiàn)表1。工業(yè)中紅外熱像技術(shù)的另一用途是精確檢測(cè)運(yùn)行中機(jī)器，使機(jī)器保持持安全運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)。原裝進(jìn)口紅外熱像儀

QDIP可視為QWIP紅外熱像儀的衍生品,將QWIP中的量子阱替代為量子點(diǎn),便產(chǎn)生了QDIP?對(duì)于QDIP而言,由于對(duì)電子波函數(shù)進(jìn)行了三維量子阱約束,因而其暗電流比QWIP低,工作溫度比QWIP高?但QDIP對(duì)量子點(diǎn)異質(zhì)結(jié)材料的質(zhì)量要求很高,制作難度大?在QDIP里,除使用標(biāo)準(zhǔn)的量子點(diǎn)異質(zhì)結(jié)構(gòu)外,還常用一種量子阱中量子點(diǎn)(dot-in-a-well, DWELL)異質(zhì)結(jié)構(gòu)?QDIPFPA探測(cè)器也是第三代IR成像系統(tǒng)的成員之一?一般而言,PC探測(cè)器的響應(yīng)速度比PV慢,但QWIP PC探測(cè)器的響應(yīng)速度與其它PV探測(cè)器相當(dāng),所以大規(guī)模QWIP FPA探測(cè)器也被研制了出來(lái)?與HgCdTe—樣,QWIP FPA探測(cè)器也是第三代IR成像系統(tǒng)的重要成員,這類探測(cè)器在民用與天文等領(lǐng)域都有著大量的使用案例?上海市紅外熱像儀維修熱成像儀檢測(cè)的是熱量，所以常常可以發(fā)現(xiàn)隱藏在茂密叢林中或被大霧遮蔽的目標(biāo)人物。

紅外熱像儀與普通相機(jī)有以下幾個(gè)主要區(qū)別：工作原理：普通相機(jī)通過(guò)捕捉可見(jiàn)光來(lái)形成圖像，而紅外熱像儀則是通過(guò)檢測(cè)物體發(fā)出的紅外輻射來(lái)形成圖像。紅外輻射是物體在熱量分布上的表現(xiàn)，與物體的溫度相關(guān)。感應(yīng)器：普通相機(jī)使用光敏感器（如CCD或CMOS）來(lái)捕捉可見(jiàn)光信號(hào)，而紅外熱像儀使用紅外感應(yīng)器（如微波探測(cè)器或熱電偶）來(lái)捕捉紅外輻射信號(hào)。圖像顯示：普通相機(jī)顯示的是可見(jiàn)光圖像，而紅外熱像儀顯示的是熱圖像，即物體的熱量分布圖。熱圖像通常以不同的顏色或灰度表示不同溫度區(qū)域。應(yīng)用領(lǐng)域：普通相機(jī)主要用于捕捉可見(jiàn)光圖像，適用于大多數(shù)日常攝影和視頻拍攝需求。而紅外熱像儀主要用于檢測(cè)物體的熱量分布，適用于建筑、工業(yè)、醫(yī)療、安防等領(lǐng)域的熱成像應(yīng)用。價(jià)格和復(fù)雜性：由于紅外熱像儀的技術(shù)和應(yīng)用特性，其價(jià)格通常比普通相機(jī)高。此外，紅外熱像儀的操作和解讀熱圖像的技術(shù)要求也相對(duì)較高，需要專業(yè)培訓(xùn)和經(jīng)驗(yàn)。

鉛鹽探測(cè)器一般指基于PbS和PbSe等IV-VI族半導(dǎo)體材料制作的PC探測(cè)器,它們中的PbS探測(cè)器早在二戰(zhàn)期間就已經(jīng)投入到***的實(shí)際應(yīng)用之中?直至現(xiàn)在,紅外熱像儀因其低廉的生產(chǎn)成本與室溫下優(yōu)良的靈敏度等優(yōu)勢(shì),這類探測(cè)器仍占據(jù)著一定比例的商用市場(chǎng),許多**制造商對(duì)此均有涉足,如美國(guó)CalSensors?NewEngland Photodetectors?Thorlabs?TJT,西班牙New Infrared Technologies以及日本濱松(Hamamatsu)等?然而,由于銀鹽材料的介電常數(shù)很高,這類探測(cè)器的響應(yīng)速度比一般的光子探測(cè)器都要慢,這一劣勢(shì)很大程度上限制了相應(yīng)的大規(guī)模FPA探測(cè)器的發(fā)展,截至2014年,鉛鹽FPA探測(cè)器像元達(dá)到了320x256中等規(guī)模?制冷型紅外熱像儀由于其精度高誤差小靈敏度高，使得其檢測(cè)結(jié)果更加可靠。

對(duì)于該類探測(cè)器,基底由Si變?yōu)镚e時(shí),其探測(cè)波段可從IR延伸到THz,在這里姑且將Si基與Ge基兩類放在一起加以闡述?傳統(tǒng)的非本征探測(cè)器是基于被摻雜的Ge或Si作為吸收材料制作而成的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的PC探測(cè)器,主要有Ge:X[X=Hg?Ga?鈹(Be)?鋅(Zn)]?Si:Y[Y=Ga?砷(As)?銦(In)]等類型?這類探測(cè)器的響應(yīng)范圍取決于雜質(zhì)元素在基底里的離化能量,一般可覆蓋LWIR?VLWIR乃至THz波段,但需要在低溫(<10K)下工作?由于響應(yīng)波段很寬,非本征探測(cè)器被應(yīng)用到了航天領(lǐng)域,然而困境也隨之出現(xiàn):在太空中核輻射對(duì)探測(cè)器響應(yīng)的影響較大,需要減薄探測(cè)器吸收層來(lái)降低影響,但這樣也會(huì)使量子效率降低紅外熱像儀的主要性能指標(biāo)分類。原裝進(jìn)口紅外熱像儀

紅外熱像儀已廣泛應(yīng)用于包括電力、科研、制造等領(lǐng)域內(nèi)的各行各業(yè)。原裝進(jìn)口紅外熱像儀

在同一個(gè)溫度，測(cè)溫的紅外波長(zhǎng)越大，發(fā)射率就越小，反之，測(cè)量的波長(zhǎng)越小，發(fā)射率就越大。(注意，這個(gè)規(guī)律只是針對(duì)金屬或鋼鐵來(lái)說(shuō)的，不適合其它材料，其它材料有其它材料的發(fā)射率規(guī)律，比如玻璃則反之)。發(fā)射率表提供的往往是一個(gè)發(fā)射率范圍，你無(wú)法準(zhǔn)確確認(rèn)發(fā)射率的值，也就是發(fā)射率設(shè)置經(jīng)常會(huì)有誤差，而且有時(shí)誤差還特別大而且，**重要的一點(diǎn)就是：除了黑體以外，實(shí)際物體的發(fā)射率值往往在一個(gè)范圍里，而不是一個(gè)固定的值，比如上圖中的哈氏合金在1μm時(shí)，發(fā)射率值是；同樣，鐵、鋼材，也是如此，比如不銹鋼在1μm時(shí)發(fā)射率為，而在8-14μm時(shí)發(fā)射率是。換言之，在這個(gè)范圍里，提供的發(fā)射率表很多都是一個(gè)范圍，而不是一個(gè)確定的值，在這個(gè)范圍里，誰(shuí)也弄不清到底具體發(fā)射率值是多少，所以你如何確切地設(shè)定發(fā)射率呢？又如何確保發(fā)射率沒(méi)有誤差呢？所以，發(fā)射率誤差1%~10%是應(yīng)用紅外測(cè)溫儀、紅外熱像儀中非常常見(jiàn)的、經(jīng)常發(fā)生的。原裝進(jìn)口紅外熱像儀