探針臺(tái)市場(chǎng)逐年增長(zhǎng)：半導(dǎo)體測(cè)試對(duì)于良率和品質(zhì)控制至關(guān)重要，是必不可少的環(huán)節(jié)，主要涉及兩種測(cè)試（CP 測(cè)試、FT 測(cè)試等）、三種設(shè)備（探針臺(tái)、測(cè)試機(jī)、分選機(jī)等）。根據(jù)半導(dǎo)體產(chǎn)線投資配置規(guī)律，測(cè)試設(shè)備在半導(dǎo)體設(shè)備投資的占比約為8%，次于晶圓制造裝備，其中測(cè)試機(jī)、分選機(jī)、探針臺(tái)的占比分別為63.10%、17.40%、15.20%。中國(guó)半導(dǎo)體市場(chǎng)飛速增長(zhǎng)。在全球貿(mào)易摩擦背景下，半導(dǎo)體行業(yè)國(guó)產(chǎn)化率提高成為必然趨勢(shì)，國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的投資規(guī)模持續(xù)擴(kuò)大。探針臺(tái)測(cè)試時(shí)參數(shù)測(cè)不穩(wěn)，為了不使它氧化，我們平時(shí)必須保護(hù)好探針卡，把它放在卡盒里。河北高溫探針臺(tái)供應(yīng)商

在實(shí)際的芯測(cè)試中探針卡的狀態(tài)是非常重要的，如探針氧化，觸點(diǎn)壓力、以及探針臺(tái)的平整度，探針尖磨損和污染都會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響,這些常見(jiàn)故障是如何形成的,而我們應(yīng)該如何避免：如果是集成電路的問(wèn)題，就需要將壞的集成電路拆卸下來(lái)，將替換的集成電路安裝上去。很多現(xiàn)代大規(guī)模集成電路的封裝往往是BGA封裝，手工拆卸幾乎不可能，需要專(zhuān)門(mén)的儀器。可見(jiàn)，集成電路如果在PCB階段才測(cè)試出問(wèn)題，對(duì)生產(chǎn)的影響高于單片的階段。對(duì)于復(fù)雜的設(shè)備，如果在整機(jī)階段才發(fā)現(xiàn)集成電路的問(wèn)題，其影響更是巨大。因此，集成電路生產(chǎn)時(shí)的測(cè)試具有很重要的意義。河北高溫探針臺(tái)供應(yīng)商如果是不合格的芯片，打點(diǎn)器立刻對(duì)這個(gè)不合格的芯片打點(diǎn)。

針尖異常(開(kāi)裂，折斷，彎曲，破損):操作過(guò)程中，由于操作工操作不當(dāng)造成.1.針尖沒(méi)有裝好保護(hù)蓋而針尖朝下直接放到設(shè)備上.2.取卡時(shí)針尖不小心碰撞.3.用細(xì)砂子打磨針尖時(shí)用力太猛使針尖彎曲.4.上高度時(shí)Z鍵打到快檔，承片臺(tái)上升過(guò)快,而撞到針尖.5.裝打點(diǎn)器時(shí)不小碰傷。6.調(diào)針時(shí)鑷子碰傷針尖等等，都要造成針尖開(kāi)裂，扎斷，彎曲，破損。這種情況一般馬上就能發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，必須把它取下來(lái)反放到顯微鏡下修復(fù)針尖，恢復(fù)到原來(lái)位置，如確實(shí)調(diào)不好的針，應(yīng)到焊卡設(shè)備上重新?lián)Q針，而一般進(jìn)過(guò)修理過(guò)的探卡，使用時(shí)間會(huì)縮短且容易誤測(cè)，所以對(duì)這種情況都應(yīng)嚴(yán)格禁止發(fā)生，平時(shí)對(duì)操作人員應(yīng)加強(qiáng)培訓(xùn)，取針卡時(shí)應(yīng)裝好保護(hù)蓋，針尖不要碰到設(shè)備上，用細(xì)砂子砂針尖時(shí)應(yīng)輕輕打磨，上高度時(shí)，把Z鍵打到慢檔，緩慢上升承片臺(tái),找準(zhǔn)接觸點(diǎn)。

如果需要一款高量測(cè)精度的探針臺(tái)，并不是有些廠商單純的認(rèn)為，通過(guò)簡(jiǎn)單的機(jī)械加工加上一臺(tái)顯微鏡就可以完成，我們?cè)谔结樑_(tái)設(shè)備的研發(fā)中有著近二十年的經(jīng)驗(yàn)，并有著精細(xì)機(jī)械加工的技術(shù)能力，可以為您提供高準(zhǔn)確的探針臺(tái)電學(xué)檢測(cè)儀器，同時(shí)我們與世界電學(xué)信號(hào)測(cè)試廠家有著多年的合作，可以提供各類(lèi)電學(xué)測(cè)試解決方案。在對(duì)射頻設(shè)備進(jìn)行原型設(shè)計(jì)和測(cè)試時(shí)，很多情況下，在電路的非端口位置進(jìn)行測(cè)試有助于優(yōu)化設(shè)計(jì)或者故障排除。然而實(shí)際操作中，在較高的頻率下進(jìn)行測(cè)試是一項(xiàng)更大的挑戰(zhàn)。探針臺(tái)由于動(dòng)子和定子間無(wú)相對(duì)摩擦故無(wú)磨損，使用壽命長(zhǎng)。

錸鎢探針指的是采用含錸3%的錸鎢合金絲打造而成的探針。中鎢在線提供好的錸鎢探針產(chǎn)品。鎢作為一種硬度強(qiáng)、耐高溫的金屬材料，常被用于燈絲、電極、熱電偶或者探測(cè)針等等，但鎢本身存在易脆和可塑性低的問(wèn)題，這減小了其使用過(guò)程中的壽命。為降低鎢的脆性以及提高其可塑性，傳統(tǒng)的方法通過(guò)在鎢內(nèi)添加稀有金屬形成鎢基合金增加其性能。在鎢內(nèi)添加錸，可以發(fā)生“錸塑化效應(yīng)”，增加鎢的可塑性。錸鎢合金具有高熔點(diǎn)、厲害度、高硬度、高塑性、高再結(jié)晶溫度、高電阻率，低蒸氣壓、低電子逸出功和低塑性脆性轉(zhuǎn)變溫度等一系列優(yōu)良性能。探針臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)就顯得尤為重要。河北高溫探針臺(tái)供應(yīng)商

探針卡焊完后使針尖剛好回到壓點(diǎn)中心,同時(shí)針焊好后應(yīng)檢查針尖的位置，檢查針的牢固性。河北高溫探針臺(tái)供應(yīng)商

探針臺(tái)主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格的芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試及探卡測(cè)試針臺(tái)座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。半導(dǎo)體指常溫下導(dǎo)電性能介于導(dǎo)體與絕緣體之間的材料。根據(jù)導(dǎo)電性，材料被分為像銅一樣導(dǎo)電的導(dǎo)體，像陶瓷一樣不導(dǎo)電的絕緣體，還有導(dǎo)電性介于兩者間的半導(dǎo)體。近，“半導(dǎo)體”也常被用來(lái)稱(chēng)呼利用半導(dǎo)體的特性制成的集成電路。河北高溫探針臺(tái)供應(yīng)商