低溫度漂移溫度漂移：專譜光電的激光器系統具有低溫度漂移特性（<0.007 nm/°C），這對于需要在不同環境溫度下工作的實驗非常有利。5. 高邊模抑制比邊模抑制比：激光器的邊模抑制比優于 40 dB（60 dB 可選），這有助于減少光譜中的雜散信號，提高測量的準確性。6. 操作便捷性操作便捷：激光器系統設計簡潔，操作方便，包含上位機控制、急停開關、短接保護等功能，確保實驗的安全性和便捷性。7. 多種波長選擇波長選擇：專譜光電提供多種波長的激光器，如 532 nm、785 nm 和 1064 nm，適用于不同的應用需求。微流控領域：觀察和精確定位樣品區域，進行熒光、拉曼和反射光譜的測量。甘肅鈣鈦礦專譜光電測量系統

ProSp-Micro 顯微光譜測量系統憑借其多功能集成、模塊化設計和高分辨率，成為科研領域中的理想選擇。其在微流控、農業、激光材料、光子晶體、珠寶檢測、古籍保護、環境科學、食品檢測、個性化醫療、合成生物學、3D打印和航空航天等多個領域的應用，展示了其強大的性能和靈活性。ProSp-Micro40 系列顯微光譜測量系統是一款集成了透反射、熒光和拉曼光譜測量功能的高性能設備，具有以下***優點：多功能集成：集成了顯微透反射、顯微熒光和顯微拉曼光譜測量功能，實現多種光譜測量。雙光譜顯微模塊可以疊加使用，擴展為4光譜、6光譜和8光譜顯微系統。模塊化設計：顯微光譜模塊可以集成到大部分通用的正置顯微鏡，實現顯微光譜測量。顯微光譜測量模塊通過光纖連接光源和光譜儀，可以自由插拔。靈活配置：模塊中帶2個濾波片槽，可以用來放置激發濾波片和發射濾波片（或衰減片或其他光學鏡片），實現不同激發波長的顯微熒光測量和發射光譜測量。提供多種激發波長選擇，如375nm、405nm、450nm、532nm等。青海全角度光譜測量系統專譜光電廠商SERS 基底：用于表面增強拉曼光譜測量，適用于痕量分析和醫學診斷。

ProSp 角分辨測試系統（ProSp-RTM-UV/VIS）是一款高性能的全角度光譜測量系統，廣泛應用于材料科學、微納光學、生物技術和礦物分析等領域。以下是其主要功能和應用：功能描述全角度測量：接收端角度范圍：0-360°發射端角度范圍：0-270°高角度分辨率：角度分辨率可達 0.01°全光譜測量：光譜范圍：250-2500 nm多種測量模式：上反射、下反射、透射、散射、輻射等多種測量模式自動測量模式：通過軟件設置測量模式、接收角范圍、入射角范圍、角度分辨率、循環次數、積分時間等參數，實現不同模式的自動測量手動測量模式：可以任意控制樣品臺的入射角和接收角進行光譜測量

光譜范圍：系統覆蓋 250-2500 nm 的光譜范圍。角度分辨率：系統提供高達 0.01° 的角度分辨率。自動測量功能測量模式設置：用戶可以通過軟件設置測量模式（如反射、透射、散射等），系統將自動完成測量。角度范圍設置：用戶可以設置入射角和接收角的范圍，系統將自動掃描并記錄數據。循環測量：系統支持循環測量，用戶可以設置循環次數，系統將自動重復測量。積分時間設置：用戶可以設置積分時間，系統將自動調整以優化測量結果。ProSp 角分辨測試系統憑借其高角度分辨率、全光譜測量能力和多種測量模式，成為材料科學和光學研究中的理想選擇。共焦光路設計：顯微光譜模塊采用共焦光路設計，優化了系統性能。

5. 技術優勢高靈敏度和低噪聲：系統采用高靈敏度的光譜儀和探測器，確保在低光條件下也能獲得高質量的光譜數據。多種波長選擇：系統支持多種波長的光源，適用于不同的實驗需求。靈活的配置：用戶可以根據具體需求選擇不同的光譜儀、光源和顯微鏡。總結專譜光電的 ProSp-Micro 系列顯微光譜測量系統憑借其二維掃描 Mapping 功能、多種光譜測量模式、強大的軟件功能和靈活的配置，在材料科學、生物醫學和環境監測等領域具有廣泛的應用前景。其在 Mapping 方面的表現，為研究人員提供了高精度的光譜成像和微觀結構分析工具。激光器輸出光的中心波長，決定了激光器的應用范圍。例如，專譜的785 激光器的中心波長為 785±0.5 nm。四川HL-2000專譜光電網站

顯微拉曼測量：用于獲取樣品的拉曼光譜，從而分析其分子結構。 顯微反射測量：測量樣品表面的反射光譜。甘肅鈣鈦礦專譜光電測量系統

杭州專譜光電技術有限公司（Hangzhou SPL Photonics Co., Ltd.）是一家專注于光譜儀器、激光器系統及配件、生物光學和量子光學等領域的企業。公司提供多種高性能的光電產品和解決方案，廣泛應用于科研、工業和環境監測等領域。1. 光譜儀器專譜光電提供多種光譜儀器，包括：顯微光譜測量系統：如 ProSp-Micro 系列，集成了反射、熒光和拉曼光譜測量功能，適用于多種科研應用。角分辨光譜測量系統：用于測量材料的反射率、透射率和散射特性。LIBS 光譜測量系統：用于快速檢測材料的成分。膜厚光譜測量系統：用于測量薄膜的厚度和折射率。2. 激光器系統專譜光電代理多種高性能激光器，包括：半導體激光器：用于多種科研和工業應用。超緊湊納秒激光器：適用于高重復頻率的實驗。超快激光器：用于需要高時間分辨率的實驗。窄線寬激光器：適用于需要高光譜分辨率的應用甘肅鈣鈦礦專譜光電測量系統