GMS1920快速臥式分布光度計采用探測器靜止，轉動燈具的測量原理，實現光源或燈具各個方向上的光強分布測量，滿足CIE、IESNA等國際、國內標準等要求，配不同軟件實現C-γ、A-α和B-β等多種測量方式。它是翊明科技自主設計了計算機控制的高精度兩軸連續旋轉燈具工作臺，有效消除了現有結構來回轉向間隙，采用高導電率的金屬制成具有錯層結構的導電滑環，隔離驅動電路和控制電路，消除了大電流對控制電路的干擾，實現了燈具的三維平穩運動，***地提高了整機的可靠性與測量精度。創新設計了金屬電熱膜環繞加熱恒溫腔，加熱場分布更加均勻，并通過模糊控制算法控制金屬導電膜電流大小，使恒溫控制更加快速、穩定，**減少了測試系統溫度波動，保證了光電轉換的準確，提高了分布光度計的精細度。自主設計了分布光度計燈具配光曲線系統，能快速生成平滑的等光強圖、等照度圖，實現光度數據的圖形化；結合模塊化設計，使用三維圖形來表示燈具的光強分布，更加直觀的得到燈具在各個方向上的光強分布，并能被動或自動地進行***旋轉。翊明分布光度計用于亮度限制曲線測試。惠州配光性能測試分布光度計歡迎咨詢

分布光度計的光度探測器是分布光度計的重要組成部分之一，探測器的光譜響應S(λ)精度應與人眼的明視覺光譜光視效率函數V(λ)一致，即S(λ)=V(λ)。根據國際照明委員會CIE規定，對于氣體放電燈的光強分布測量，探測器的V(λ)匹配誤差f1′應不超過2％。要使探測器的光譜響應匹配到與V(λ)曲線一致，通常采用一組不同材料的濾光片，加在硅光池前面。由于受玻璃材料的光譜透射比曲線的限制，要達到f1′小于2％的精度并非易事。目前在分布光度計中應用的硅光電探測器，靈敏度會隨溫度升高而降低，溫度變化1℃，大約會引起0.1％的靈敏度變化。此外光電流放大電路的倍率也會受溫度的影響。因此必須對光度探頭和電路恒溫，溫度應控制在1℃以內。如果條件允許的話，可用高精度的快速分光光譜儀來代替傳統的光度探頭，這樣可以消除探頭的V(λ)匹配帶來的問題，同時還可以用來測試LED的空間顏色分布，實現IESNA-LM-79的LED色空間測量方法。上海配光曲線測試儀分布光度計怎么樣翊明分布光度計滿足ENERGYSTAR能源之星的能效認證。

GMS系列分布光度計(配光曲線測試)系統+LFM5000光源頻閃測試系統+SPM-5000高精度快速光譜儀組成的光色電分析系統可用于校園教室教育照明檢測。滿足GB40070-2021兒童青少年學習用品近視防控衛生要求的標準要求。GMS系列分布光度計(配光曲線測試)系統：照明燈具效率，照度值，功率密度值(燈具概率曲線)，UGR，光束角，亮度限值曲線。LFM5000光源頻閃測試系統：光源波動深度。SPM5000系列光色分析系統：光效，相關色溫，一般顯色指數，R9，照明設備功率，功率因數和諧波含量值。

翊明分布光度計有精密、穩定機械結構，轉動平穩，低噪聲；報告格式分為能源之星報告格式、CIE報告格式、IES報告格式等。它具有以下特征：被測燈具可繞垂直軸和水平軸轉動，轉動范圍：±180°、轉動測角精度：0.1°、轉角儀**小分辨率：0.01°、光度探頭：CLASSL(f1’≤1.5[%])或CLASSA(f1’≤3[%])、光度精度：標準級（**優于一級精度）、精密、穩定機械結構，轉動平穩，低噪聲，旋轉可由遙控器、轉臺控制器或計算機軟件控制，智能化程度高，操作簡單、燈具安裝帶雙向激光對中，精度更高，被測燈具波動自動補償功能，測試結果可直接作為國際通用的照明設計軟件的輸入數據，符合CIE、IESNA等國際國內標準要求二、分布光度計的報告格式：能源之星報告格式、CIE報告格式、IES報告格式、GB報告格式、特種燈具的報告格式、其他定制報告格式。翊明分布光度計滿足GB／T 7256-2015 民用機場燈具一般要求 。

翊明式分布光度計用于LED燈具/路燈、室內外各種照明燈具的空間光強分布及多種光度參數的測定。包括：空間光強分布曲線、光強數據、光束角、總光通量、燈具效率、區域光通量、亮度分布、眩光等級、等照度曲線、空間顏色分布等等。分布光度計對于暗室尺寸要求：根據LM-79和CIE-70的要求，測試光路長度至少要為被測燈具直徑**長尺寸的6倍以上，意味著如果被測燈具的比較大尺寸為1.2米，那么光路的長度至少需要為6米，加上主機和探頭預留的位置，整體暗室長度至少要在8米以上。符合規范的暗室環境能夠很大程度地保證測試精度。翊明分布光度計滿足DLC的能效認證。寧波燈具IES分布光度計執行標準

翊明分布光度計測試結果能直接以CIBSE(TM14)國際通用的標準格式文件輸出。惠州配光性能測試分布光度計歡迎咨詢

分布光度計暗室的標準要求：①溫度要求：根據CIE70和LM-79的要求，在使用分布式光度計進行測量時，通常是在25°的環境溫度下進行的。②雜散光要求：雜散光可以使光強分布測試結果失敗，所以推薦在光源和廣度探頭接收面之間使用擋屏來限制入射的雜散光，但擋屏不能在光束中引起阻隔。光強分布的測試應該在擋屏處在對應位置上時能夠復現。此時的測量信號就是直射雜散光的信號，應該將這個量從沒有這個擋屏的測試結果中減去。③暗室墻面涂刷要求：通常在給用戶設計暗室圖紙時，都會指明使用亞光黑的涂料，將房間內所有墻面涂刷好。需要注意的是，房間所有墻面中，**重要的墻面是正對光度探頭的墻面，通常也是分布式光度計主機背后的墻面。該處若存在雜散光，將會直接照射到探頭中。④暗室尺寸要求：根據LM-79和CIE-70的要求，測試光路長度至少要為被測燈具直徑**長尺寸的6倍以上，意味著如果被測燈具的比較大尺寸為1.2米，那么光路的長度至少需要為6米，加上主機和探頭預留的位置，整體暗室長度至少要在8米以上。符合規范的暗室環境能夠很大程度地保證測試精度。惠州配光性能測試分布光度計歡迎咨詢

杭州翊明科技有限公司目前已成為一家集產品研發、生產、銷售相結合的生產型企業。公司成立于2019-07-01，自成立以來一直秉承自我研發與技術引進相結合的科技發展戰略。公司具有頻閃分析儀，分布光度計，積分球光譜分析系統，數字功率計等多種產品，根據客戶不同的需求，提供不同類型的產品。公司擁有一批熱情敬業、經驗豐富的服務團隊，為客戶提供服務。翊明科技以符合行業標準的產品質量為目標，并始終如一地堅守這一原則，正是這種高標準的自我要求，產品獲得市場及消費者的高度認可。我們本著客戶滿意的原則為客戶提供頻閃分析儀，分布光度計，積分球光譜分析系統，數字功率計產品售前服務，為客戶提供周到的售后服務。價格低廉優惠，服務周到，歡迎您的來電！