對于直讀光譜儀，用來激發樣品中分子能量的是電; 產生的放電有兩種形式 ——電弧(類似于雷擊的開/關事件) 和火花(電極電壓開關的一系列多重 放電事件)。 雖然OES分析對金屬進行，但這并不意味著它無法測量非金屬元素。 實際上，直讀光譜儀在測量鋼中的碳， 硼，磷和氮時具有優異的性能。直讀光譜儀提供比較高水平的準確度， 對所有重要元素的檢測水平非常低。 但是，電能會在樣品上留下燒痕。 除了使用電弧探頭外，OES設備比LIBS或XRF會消耗更多能量，并且還需要氬氣罐。光譜分析儀操作簡單，無需額外的培訓。牛津光譜儀作用

激光光譜儀近年來取得了較大進展。現在激光器的發展使得可以在樣品表面上發射小而強大的激光束，物體表面上的少量物質被激光消散，形成由來自樣品的分子組成的激發等離子體。隨著等離子體冷卻，樣品中的每個元素發出其特征波長，并且通過光纜收集光的波長，分析材料的組成成分。激光光譜儀提供的關鍵優勢是速度非?？?，可以在一秒鐘內完成測試。該技術特別適用于測量鋁合金，使其可用于分類廢金屬。樣品可以是導電的或不導電的，但在測試之前需要表面沒有污垢和污染物。雖然LIBS會在樣品上留下小的激光燒傷，但通常認為它是表面粗糙度而不是產品上的缺陷，這意味著LIBS實際上是一種非破壞性的技術。激光光譜儀原理手持熒光光譜儀是一種易于使用且快速，堅固耐用的工具，適用于現場使用。

手持式X-MET光譜儀可以檢測出通過肉眼檢查工件可能不會發現的需要維護的部件或原材料問題。手持式X-MET光譜儀使生產團隊知道在不按規格批量生產產品之前關閉和糾正過程。由于帶鍍層的爐灶是質量產品，比沒有鍍層的爐灶要貴數百美元，因此控制鍍層的規格是該過程中極為重要的一部分。手持式X-MET光譜儀通過避免過度鍍層節約成本和產品無法返工而報廢材料的方式，顯著降低成本。有助于避免和消除在生產爐灶時造成的重大錯誤，手持式X-MET光譜儀的成本可在七個十小時的班次中收回。

X-MET8000系列手持式X射線熒光光譜儀具備快速、精細測量各種材料中化學成分的特性，比如土壤樣品中主要金屬成分的鑒定、金屬合***號識別和成分鑒定等。被測樣品物理狀態可以是固體、小顆粒、粉末、液體和糊狀樣品。X-MET手持式XRF分析儀實用且堅固，易于使用，可提供值得信任的結果。X-MET8000的設計中，采用了我們**性的BOOST?技術和大面積硅漂移SDD探測器，其高靈敏度，為土壤、污泥、沉積物提供精細、快速的關鍵元素分析。分析速度快：測試一個樣品*需要數十秒鐘的時間。通過IP54防水防塵認證，適合各種環境氣候下的戶外測試工作。嵌入式GPS功能，將地理坐標與測試結果項結合。云端數據管理管理。現場測試結果可通過手機熱點實時上傳云端。FMS直讀光譜儀采用了平場光學系統，結合全新的CCD讀出系統，實現高精度的測量。

在過去的幾十年中，諸如鑭（La），鈰（Ce），（Pr）和釹（Nd）等稀土元素（REE）的使用已***增加。Oulu礦業學校的地質學家KimmoK?renlampi在其博士學位論文中一直探索在芬蘭中部Otanm?ki發現的稀土資源。他一直使用手持式X-MET8000光譜儀篩查從勘探區收集的巖石樣品和實驗室規模的采礦加工研究樣品的元素組成。篩選結果已用于選擇**感興趣的樣品，以進行進一步的處理和分析。X-MET8000光譜儀可以分析稀土元素，包括Y（釔），Sc（鈧），La（鑭），Ce（鈰），Pr（鐠），Nd（釹），以及從礦山和土壤中發現的其他常見元素。與KimmoK?renlampi博士研究有關的工作表明，利用X-MET8000光譜儀以合理可靠的方式，可以經濟高效地快速分析稀土元素，例如鑭，鈰，釹，鐠和釔。手持光譜儀品質高的屏幕，即使是陽光直射也易于閱讀。江西光譜儀參數

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